నైరూప్య

Characteristic Comparison and Improvement of 3D Multi Gate FINFETS

Sunil Kumar Sahoo , Ashraf Hossain

In this paper the characteristic parameters such as threshold voltage, drain currents (ION and IOFF), sub threshold slope of 3-Dimensional SOI Double Gate FINFET, Tri- gate FINFET and Independent Gate FINFET are evaluated with the help of TCAD. Drain currents are optimized by using high-K dielectric and analyzed over different gate lengths. The threshold voltage of these three devices are analyzed using various gate materials of different work functions consequently minimize the short channel effects. It also highlights the electrostatic control on channel by increasing the number of gates.

ఇండెక్స్ చేయబడింది

Academic Keys
ResearchBible
CiteFactor
కాస్మోస్ IF
RefSeek
హమ్దార్డ్ విశ్వవిద్యాలయం
వరల్డ్ కేటలాగ్ ఆఫ్ సైంటిఫిక్ జర్నల్స్
విద్వాంసుడు
ఇంటర్నేషనల్ ఇన్నోవేటివ్ జర్నల్ ఇంపాక్ట్ ఫ్యాక్టర్ (IIJIF)
ఇంటర్నేషనల్ ఇన్స్టిట్యూట్ ఆఫ్ ఆర్గనైజ్డ్ రీసెర్చ్ (I2OR)
కాస్మోస్

మరిన్ని చూడండి